极性力式中，θdiM和θw分别为二碘甲烷、水在紫外光固化材料表面的接触角。1.2红外反射分析技术

    红外反射分析技术是研究紫外光固化过程的重要手段之一，它将傅里叶变换红外光谱（FT-IR）和ATR（衰减全反射）计算机附件联合应用，特别适用于研究表面涂层的信息。区别于一般的红外透射吸收，该技术的原理是：当入射角大于临界角，光线在表面发生反射，但要透过一定的深度才能反射回来，若样品对光线有选择吸收，则全反射光能量被衰减，故称ATR，由此可以通过收集光洁样品前表面处的红外反射光来获得物质表面的特征基团等结构信息。已有文献通过对红外谱图的适时监控，观察紫外光固化过程中涂层表面化学结构的转变。图3是聚丙烯酸酯（EB80）固化过程中不同时间段的涂层表面红外谱图，它反映了个别基团随时间的消减变化情况。在经历了180min的紫外光固化后，810CM-1处丙烯酸树脂中-CH伸缩振动特征峰基本消失。另外，984cM-1处（CH2=CH-）、1408CM-1处（CH2=CH）和1635CM-1处（丙烯酸中碳碳双键）的吸收峰也渐渐消失了。因此可以通过最终涂层表面的特征官能团的信息，了解涂层表面极性和润湿性的有关情况。

    1.3XPS分析技术

    XPS分析的原理是：当样品在具有能量为hν的软性X射线辐射下，由于光电子效应而释放出具有各种动能的光电子，根据释放出来的光电子的动能和光电子量，来获得有关试样表面数层原子的元素组成和化学键状态的信息，一般探测深度为1.0～10NM。它也是研究涂层表面的有效手段，是红外反射分析的有益补充。SangermanoM等人用XPS技术测定了加入含氟单体FOX后，涂层表面的元素组成。图4是掠射角为45°时，C1s和F1s的XPS图谱。当FOX的质量分数为5%时，F1s的原子结合能为690eV左右，而当其质量分数增加到10%和15%时，结合能值变大且强度增加。同时，对于C1s来说，随着FOX含量的增加，C-F结合键的增多，结合能的峰值也向数值大的方向偏移。其中，峰值为285eV处C原子的主要结合方式为：C-H、C-C、C-O，而295eV处为C-F结合键。

    将图4的XPS曲线进行拟合，通过峰面积计算，得出各元素在表面的相对含量。表1是不同FOX含量（质量分数）样品在掠射角为25°、45°、85°时测得的C、O、F三种元素的含量。

    结果发现，当FOX质量分数为15%时，固化后涂层表面的含氟单体浓度几乎达到饱和。

    2材料的组成物质以及其他因素对表面性能的影响

    紫外光固化材料主要由低聚物、单体稀释剂、光引发剂组成，有时为了获得某些特殊性能，再配以适量的助剂、填料等。这里主要从活性反应物（单体稀释剂、低聚物）和助剂方面来讨论其对光固化材料表面性质的影响。

    2.1活性反应物的影响

    在紫外光固化材料组成中，活性反应物包括单体稀释剂和低聚物。单体对光固化材料的性能起着关键的影响。 文献指出，加入带有羟基的单体可以调节光固化材料表面的润湿性能。该文章报道在丙烯酸羟乙基的氨基酯有机硅聚合物中，当添加占树脂质量1/3的单体后，其固化涂膜表面润湿性能就发生变化。如添加双官能团单体二缩三丙二醇二丙烯酸酯（TPGDA）后，固化薄膜表面对水的接触角从纯树脂的99.6°降到了74.3°，再如添加三官能单体季戊四醇三丙烯酸酯（PETA)，其接触角降为更低的62.4°。即加入有羟基的单体能增强固化薄膜表面的润湿性能，表面亲水性也增强。低聚物是光固化材料的主体，其性能基本上决定了固化后材料的主要性能。其中，有机硅低聚物的紫外光固化材料的表面具有疏水性好、表面张力低等特点，因而受到越来越多的关注。现在用的较多的有机硅低聚物为聚二甲基硅氧烷的丙烯酸树脂（AcrylatEfunctionalPolydimethylsiloxane，AF2PDMS）。KiMHK等还研究发现在聚酯丙烯酸树脂中，添加质量分数为1%的AF2PDMS后，涂层的表面张力由38.1mN/M降到37.4mN/m，同时涂层表面AF-PDMS的含量也增加。